X荧光光谱仪应用领域:
●各种电子电器产品RoHS检测
●卤素检测
●镀层厚度分析
X荧光光谱仪软件技术:
●分析元素:Na~U之间元素。
● 分析时间:60~400秒。
● 配置RoHS检测分析模型,无卤分析模型。
● 软件界面简洁,模块化设计,功能清晰,易操作。
● 软件拥有数据一键备份,一键还原功能,保护用户数据。
●根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试度。
● 配备开放式分析模型功能,客户建立自己的工作模型。