硅片、薄膜厚度测定仪

美国原装进口硅片、薄膜厚度测定仪

简介：

LE1000-2型号测厚仪是美国米特尔Measureitall公司生产的一款、接触式测厚仪，因为性价比高、准确度高、低力值接触/受压能力，居于行业地位，在北美，亚洲和欧洲市场广泛应用于：塑料胶片、塑料膜、硅片生产商。

一、仪器特点：

的精密测量和度和可重复性。用电缆释放或气压接触柱塞传动。用于准确测量薄膜厚度、位移、位置或尺寸。LE1000-2测厚仪理想适用于各种测量应用。

二、功能及优势：

Ø  的传感器度：优于+0.2μm。

Ø  坚固的钢架：大型、坚固的80mm直径磨光钢制砧座和铸钢底座让和可重复的测量成为可能。

Ø  贯穿整个12mm或25mm测量范围的线性。

Ø  易于使用。。。“直接连接至电脑”或控制器能够提供用户友好型的方法进行设置装置和众多其它特色。

Ø  超轻压力/作用力，LE1000-2的修改版能够提供“低压力”薄膜测厚仪。

Ø  RS-232输出至电脑或显示屏。

Ø  直接至电脑（DTPC）厚度软件能够实时传输数据用于显示，同时保持信息至TXT文件。

Ø  控制器/显示屏。。。零点/保留/毫米/英寸按钮。本地显示以mm（公制）为形式并显示为微米。（1微米=0.001mm并显示为1.00）。分辨率为0.01μm。英寸（英制）是用户可选择的并显示为密耳（1密耳=0.001”并显示为1.0000）。分辨率为0.0004密耳。

Ø  自动调零按钮会在闲置时立即对厚度计进行调零，允许进行添加或删减测量。

Ø  用电缆释放或气动压力实现柱塞传动。

Ø  大型显示屏显示测量结果。DTPC（直接连接至电脑）软件将显示测量数值、平均值、标准公差、小值/大值、图表和更多信息。

Ø  完整的系统包括传感器、控制器或软件、基座、电缆起降（MT12/25）和标准测量头。

Ø  可提供可选的接触头——扁平，半径，圆形，超轻重量。

Ø  订购配件，（1）DTPC=传感器直接连接至电脑，（2）CD=传感器连接至独立的控制器/显示屏。

*LF = Low Force（低作用力）

三、满足标准：

ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、ISO4593、ISO534、ISO3034、DIN53105、

GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、JIS、BS等标准。