MCSESM203F4LG0施耐德模块
逻辑器件测试速度:逻辑器件测试速度是指测试仪每秒可向被测器件输入端施加多少个测试向量(Test Vector),即TV/S,这是衡量测试仪性能的重要指标,速度越快越好,表明测试仪的档次越高,HN2000/MX高可达610KTV/S(国外测试仪Pinpoint达10MTV/S,QT200达500KTV/S。)。该指标应准确、稳定,不随微机的档次而变。该指标的主要作用是解决同一型号但不同类型逻辑器件采用同一测试速度有时不能测试成功的问题。
MCSESM203F4LG0施耐德模块
控制定子磁链引入定子磁链观测器,实现无速度传感器方式;
2、自动识别(ID)依靠的电机数学模型,对电机参数自动识别;
3、算出实际值对应定子阻抗、互感、磁饱和因素、惯量等算出实际的转矩、定子磁链、转子速度进行实时控制;
4、实现Band—Band控制按磁链和转矩的Band—Band控制产生PWM信号,对逆变器开关状态进行控制。
矩阵式交—交变频具有快速的转矩响应(<2ms),很高的速度精度(±2%,无PG反馈),高转矩精度(<+3%);同时还具有较高的起动转矩及高转矩精度,尤其在低速时(包括0速度时),可输出150%~200%转矩。
6SN1118-0DK23-0AA2伺服器
6GK7543-1AX00-0XE0处理器
6ES7954-8LP01-0AA0内存卡
CS710-4T5.5GB变频器
MCSESM203F4LG0施耐德模块
150-F480NBD软起动器
1794-AENT模块
6EP1336-3BA00电源
6ED1 055-1NB10-0BA2模块
TSXP574634M模块
1756-OF6CI模块
1756-IG16模块
1756-EN2T模块
140DDO36400模块
140DDI35300模块
140NOE77101模块
140DDI36400模块
PTQ-PDPMV1模块
1747-SDN通讯版
1746-IB16输入卡
1746-NIO4V输出卡
1746-NI8输入卡
3BSE050198R1模块
1756-CN2RXT/B模块
6GK1561-1AA01通讯板
6FC5203-0AF22-0AA2触摸屏
6FC5203-0AF02-0AA1触摸屏
CIMR-G5A42P2变频器
1764-24BWA模块
6ES7407-0KA02-0AA0模块
2711P-T6C20D9触摸屏
1764-24BWA模块
1747-L552模块
TSXPSY2600模块
TSXP57153模块
TSXDSY32T2K模块
TSXAEY1600模块
TSXASY800模块
215-1BG40-0XB0模块
241-1AH32-0XB0模块
22B-D2P3N104变频器
22B-D1P4N104变频器
1756-L73处理器
3BSC610067R1模块
6EP1437-3BA10电源
6SN1123-1AA00-0DA2驱动器
6ES7318-3EL01-0AB0
6ES7153-2BA02-0XB0模块
6ES7 216-2BD23-0XB8模块
1761-L32BWA模块
140NOE77101模块
HE693PBM101模块
A5E33783816板卡
TSXAEY414模块