Advantest Q8381A 光学频谱分析仪

光学测量仪器和光学设备测试系统

甚至解决了脉冲光测量的问题

Q8381A

宽波长范围： 0.35 至 1.75 µm

极化依赖性低：± 0.1 dB 或更低

高输入灵敏度：-85 dB

的脉冲光测量功能

功率监控功能

多功能记忆功能

Q8381A

光学频谱分析仪

Q8381A 光频谱分析仪可分析 350 至 1750 nm 的宽波长带和 -85 至 +10 dBm（1.1 至 1.6 µm）的宽动态范围，适用于 LED 显示屏和通信光设备的测量。

此外，ADVANTEST 的技术实现了低偏振依赖性和 ± 1.5 dB 的高水平测量精度。

除了自动佳测量条件设置、自动峰值搜索和半值宽度测量功能外，

Q8381A 还具有脉冲光测量功能、功率监控功能和亮度补偿显示功能，从而提高了操作和分析能力。

在传统的脉冲光测量中，即使进行多次求平均值并获得占空比的平均功率，也可能导致电平过低和数据丢失。Q8381A 解决了所有这些问题。

高灵敏度的宽波长测量

Q8381A 可以 -85 dBm 的高灵敏度测量 1.1 至 1.6 µm 的宽波长范围。

因此，可以在宽动态范围内对来自掺铒光纤放大器（EDFA）的自发辐射光进行电平测量，并结合白光光源进行波长特性测量。

宽动态范围测量

通过大限度地降低环境光照度，Q8381A 实现了宽动态范围，与峰值波长相比，1 nm 时为 40 dB，5 nm 时为 50 dB。

这种性能水平非常适合测量 DFB 激光二极管的侧模抑制比。

高速测量

在正常模式下，Q8381A 可以在 0.8 秒或更短的时间内实现高速测量（跨度为 200 nm），从而可以地测量光谱变化。

在调整滤光片中心波长时，它可以通过标记间扫描进行实时测量。

低偏振依赖性确保了

电平测量

凭借 ADVANTEST 的技术，Q8381A 的电平测量精度可达 ± 1.5 dB，所有波段的偏振相关性低至 ± 0.1 dB。

波长灵敏度特性也在所有波段得到补偿，从而实现了更的电平测量。

的脉冲光测量

迄今为止，脉冲调制光信号的光谱都是在平均后测量的。然而，测得的光谱可能低于实际发光电平，或出现数据丢失。

为了解决这个问题，Q8381A 提供了两种测量模式： 脉冲扫描模式和门控测量模式。

功率监控功能

使用光学频谱分析仪分析光束时，需要与光纤耦合。传统方法是将光束送入分析仪，同时使用光功率计监测耦合情况。

Q8381A 的功率监控功能与光功率计的使用方法相同。