Advantest Q8341 光频谱分析仪

●高速、测量 LD

●高速测量选项： 0.5 s

●窄相干测量分辨率：0.001 毫米

●十倍以上的高波长精度：±0.01 nm（选件）

●高波长分辨率选项： 0.01 nm，波长 650 nm

●测量波长范围广： 350 纳米至 1000 纳米

●小巧轻便的平台

高通量能力

Q8341 是一款用于可见辐射的光学频谱分析仪，波长范围为 350 nm 至 1000 nm。

Q8341 采用带有迈克尔逊干涉仪的傅立叶光谱系统，因此可以测量相干性。

Q8341 的窄波长分辨率为 0.01 nm，不仅对 CD/DVD 激光二极管，而且对蓝紫色激光二极管的评估都非常有效。

此外，内置的 He-Ne 激光器可作为波长基准，确保 ±0.01nm 的高波长测量精度。

后，Q8341 具有 0.5 秒*的快速测量速度，是评估系统元件温度特性的理想之选。

●相干测量分辨率： 0.001 毫米

●波长分辨率（650 纳米）： 

0.05 nm（标准），0.01 nm（选件） 

峰值波长的测量分辨率为 0.001 nm

●波长测量精度： 

±0.05 nm（标准），±0.01 nm（选件）

●大输入电平：±10 dBm

●大 相干测量长度： 

约 10 毫米（标准），约 40 毫米（选件）

●波长测量范围 350 至 1000 纳米

●体积小、重量轻

测量原理

Q8341 采用迈克尔逊干涉仪。在这种安排中，来自被测设备的光被分割成两条路径（在两条路径之间产生干涉）。

由此产生干涉图。横轴表示两条光路的长度差（即时间或相位）。而纵轴则表示干涉光强度。

这就是被测设备的自相关性。对该函数进行 FFT 处理，就能得到功率谱。为此，我们使用 He-Ne 激光器作为波长参考源。

特点

高速测量选项： 0.5 s. 

制造/生产环境的理想之选 Q8341 可在约 0.5 秒内测量整个跨度。这一特性使 Q8341 成为激光和发光二极管生产线的理想之选。

此外，这种快速测量速度也非常适合高产能环境。

出色的相干分析长度

分析长度 大约 40 毫米（选件）

大约 10 毫米（标准）

大长度分辨率 0.001 毫米 

Q8341 还能评估光盘激光二极管的相干性。Q8341 分析长度长达 40 毫米，分辨率窄至 0.001 毫米，适合评估蓝紫色激光二极管和其他紧凑型光学元件。

高波长精度

波长精度：±0.01 nm（选配），±0.05 nm（标准）

Q8341 内置 Ne-He 激光参考光源，可实现高波长精度的光谱测量。

窄分辨率测量蓝紫色激光二极管的振荡模式

波长分辨率（650 nm 时）： 

0.01 nm（选配）

0.05 nm（标准）

Q8341 具有窄分辨率，可分离蓝紫色激光二极管的振荡模式。此外，峰值波长的测量分辨率为 0.001 nm，非常适合监测受 DUT 环境影响的测量结果。

用于高通量测量

Q8341 采用大容量内存和计算单元，可快速存储数据。然后，计算单元对这些数据进行计算，以显示指定的波长和跨度。

例如，如果 Q8341 要分析两个波长范围（650 nm ±50 nm 和 780 nm ±50 nm）的光谱，则只需改变其显示范围即可执行两个不同 LD 的光谱分析。

所有这些都无需重新配置系统即可完成。因此，Q8341 缩短了批量生产系统使用的索引时间。