光学测量仪器和光学设备测试系统
速光通信和高密度波分复用光通信(Dense-WDM)的研究与开发取得了重大进展,这些技术正越来越多地应用于工业领域。
在研究和开发领域,振幅特性、色度色散特性和群分复用特性是重要的、
在研发领域,需要以较高的光频分辨率测量光学设备或光学子系统的振幅特性、色度色散特性和群延迟特性。
需要该功能的设备包括 AWG、光纤光栅滤波器、色散补偿器等。
特别是,由于色散特性会阻碍光通信比特率的提高,因此降低或管理色散值。
Q7750 optocope(光网络分析仪)是一种用于测量光传输特性的革命性设备,
可在光载波频率范围内高速、高分辨率地测量光设备入射光和反射光的振幅/色散/群延迟特性。
此外,还能轻松测量各种色度色散特性,包括色散位移光纤或非零色散光纤的零色散特性和色散斜率特性。
采用相移法进行测量,可实现高光频分辨率和宽动态范围。
可批量测量光载波频率范围内的光传输特性 Q7750 配备了可变波长光源,
可通过扫描一系列波长(光频率)同时测量光载波频率范围内的传输和反射特性(S21 和 S11 作为 S 参数)。
测量参数如下表所示。这些参数可在一次扫描中同时测量。
高光学频率分辨率
光频分辨率:高达 50 MHz(根据波长转换为 0.4 pm)
Q7750 的大光频分辨率为 50 MHz。这就实现了分辨率光载波频率领域的测量,而这在以前是不可能实现的。
可以轻松测量用于 DenseWDM 或 Ultra-Dense-WDM 的光学设备的振幅和色度色散特性(通道步长:100 GHz、50 GHz、25 GHz 等)。
可选波长跨度从 70 nm(大)到约 0.1 nm(小)。
高速测量
测量时间 约 6.7 毫秒(每个测量点) 约 4 秒(在指定跨度内) 一次扫描的间隔(测量时间)约为 4 秒。
这意味着 Q7750 可以在 4 秒钟内完成测量,而之前的测量过程需要几十秒。
如果测量时间过长,可能无法获得准确的结果,因为被测设备的特性可能会受温度等环境条件的影响而发生变化。
而 Q7750 可以在短时间内完成测量,确保高速、准确的测量,而不受被测设备温度特性的影响。