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IC695PBS301光学组件的生产不仅需要的制造和抛光，还需要的测量。如果终工件不能被测量，那么制造方法的效率和可重复性的提高意义不大。该行业已经创立了轮廓术、共焦显微镜、椭圆测量术或干涉测量法等多种计量技术来测量不同的关键参数（曲率半径、平面度、粗糙度、薄膜厚度、透射率……）。

薄膜是光学组件行业非常常见的要素，人们在薄膜的质量控制方面已经做了大量工作。近年来，薄膜被广泛用于光学元件表面的功能涂层（例如保护性或抗反射涂层）或制造不同类型的滤光片和反射镜。计量对于确保使用市场上可用的不同薄膜沉积技术生产的终产品的品质至关重要。该行业的一个关键需求是对带有光学涂层的现有的和新开发的组件进行光谱测量。

EssentOptics Europe公司（立陶宛维尔纽斯）为平面组件和透镜（包括非球面）的完全无人值守光谱测量提供了不同的解决方案。这些设备可以测量从紫外（UV）到可见光（VIS）、中波红外（MWIR），以及即将推出的长波红外（LWIR）的宽波长范围内的透射和反射。这些设备令人感兴趣的一个应用是线性可变滤光片的表征，该滤光片是一种在生物和生命科学研究的光谱学中有很多应用的光学组件。EssentOptics Europe公司设计了一项新技术：正在与Omega Optical公司合作进行测试和微调。

当谈到透镜的生产时，需要控制的一个重要参数是中心厚度，因为它会严重影响光通过该组件的光程。从制造商的角度来看，为确保终产品的高质量，在一组具有相同规格的透镜中控制该参数的可重复性至关重要。Trioptics（德国韦德尔）开发了OptiSurf LTM（透镜厚度测量），这是一种精密的中心厚度测量系统，精度为±0.5 μm，适用于厚度高达150 mm的单透镜和双透镜。该解决方案背后的技术是的、低相干干涉测量法，其配备了减振和自定中心的机械夹具，使操作简单且独立于操作员。另一个优点是该软件的优化用户接口，使OptiSurf LTM能够无缝集成到任何生产流程中。

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