延伸电缆130-045-00-05
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艾默生DeltaV系列CSI6500/飞利浦/epro监测卡件/前置器/传感器
本特利TK-3E电涡流探头系统校验仪,TK-3 Proximity System Test Kit
校验仪为便携式仪表,通常称作“摆频信号发生器”,用于对电涡流探头进行静态和动态校验。 静态校验通过附加的千分尺完成;动态校验通过一个模拟动态机械振动的特殊旋转“倾斜圆盘”完成。 由于多年来传感器功能的改进以及性能标准更严格,该系统无法按照API670 标准对传感器系统校验提供必需的精度。
TK-3E校准仪模拟轴振动和位移,用以校准监测器。它验证监测器读数装置的工作状态以及电涡流传感器系统的状态。一个正确的校准系统意味着的读数和传感器输入。 一个纺锤形千分尺用于检查传感器系统和校准位移监测器。与TK-3E 一同提供的探头安装接头固定探头,同时被测靶面以被校准的增量向着或远离探头端部运动。前置器的输出由电压计进行记录。
振动监测器使用马达驱动的倾斜圆盘校准。圆盘上面有一个摇臂保持器将电涡流探头固定。通过将保持器和探头调节到适当位置,可以使机械振动大小达到预期值。该机械振动由校准装置中的刻度盘千分尺测量(不需要示波器)。
振动监测器的读数可以与已知的机械振动信号输出(即千分表测出的读数)进行比较。
附件
107360 -01 REBAM. 校验组件: 该组件允许对3300REBAM.传感器系统的正确运行进行校验 组件包括: 1 个高分辨率数字千分尺 ;1个可调节定位计;1个AISI E52100 靶面,模拟滚动轴承的外圈
常用型号
TK-3E,P/N: 177313-02-01;
TK-3E,P/N: 177313-02-02
1734-IB4 PLC
1734-IB8 PLC 1734IB8
1734-IB8
1734-IB8
1734-IB8S 1734-IE2C 1734-IE2V
1734-IB8S 1734-OB8S
1734-IB8S 24V DC 8
1734-IE2C CompactLogix I/O1734IE2C
1734-IK
1734-IR2 CompactLogix I/O1734IR2
1734-IT2I 1734-OE2C 1734-IB8 1734-OW4 1734-OW2
1734-IT2I CompactLogix1734IT2I
1734-OB4 1734-OB4E 1734-OB8
1734-OB4E 1734-IE2C 1734-OW2 1734-OW4
1734-OB4
1734-OB8
1734-OB8E
1734-OB8S
1734-OB8PLC1734O
1734-OE2C PLC 1734OE2C
1734-OE2C
1734-OE2V
1734-OW4 1734-OX2 1734-PDN
1734-OW4 Allen Bradley 1734-0W4
1734-TB 1734-TB3 1734-TB3S
1734-TB PLC Compact Logix 1734TB
1734-TBCJC 1734-TBS 1734-TOP
1734-TBS I/O
1734-TBS
1734-TOP POINT I/O
1746-A13 SLC 500 13
1746-A4 SLC 500 4
1746-A7 1746-IA16 1746-IA4 1746-IA8 1746-IB16
1746-A7 SLC 500 7
1746-BAS-T SLC 500