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手持合金元素光谱仪

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详细信息
产地:Y18210516534
  • Vanta Element-SDD分析仪可以实惠的价格完成矿物成分以及合金辨别,土壤重金属筛查等行业,并探测到包含镁(Mg)、铝(Al)、硅(Si)、硫(S)和磷(P)在内的轻元素。。

可测元素:

 

OLYMPUS

VANTA

VE-SDD

 

GeoChem Mode(%)

 

S, Ca,   Ti, V, Cr,   Mn, Fe, Co,   Ni, Cu, Zn,   As, Se, Rb,   Sr, Zr, Nb,   Mo, Ag, Cd,   Sn, Sb, Ta,   W, Au, Pb,   Bi, Th, Hg,   U,Mg, Al   Si,P, 34种元素

 

Vanta Element-SDD分析仪可准确、快速的在野外现场进行实时监测与数据筛查对提高工作效率,及时帮助调查科研人员判断调查情况、可对调查方案的具有重要意义。类似于智能手机的用户界面,易于学习,使用方便,有助于简化用户的培训过程和分拣过程。

以经济的成本完成轻元素的探测,擅长快速基本的分析镁(Mg)、铝(Al)、硅(Si)、硫(S)和磷(P

探测器 PIN硅漂移探测器(SDD

窗口    :聚丙烯纺织纤维(Prolene),带有聚酰亚胺网格背衬

外型尺寸(宽 × × 厚):8.3 × 28.9 × 24.2 cm

重量      带电池时1.54公斤;不带电池时1.32公斤。

激励源激励源:4瓦特X射线管,50 kV银(Ag)阳极靶材

4瓦特X射线管,50 kV银(Ag)阳极靶材

主光束滤波 :固定的铝制滤波片

探测器           ;硅漂移探测器(SDD

电源:     14.4 V可拆卸锂离子电池,或者18 V电源变压器,100 240 VAC50 60 Hz,大70 W

显示      :800 × 480WVGA)电容式液晶显示触摸屏,可使用手指进行控制

操作环境   ;温度:−10 °C 45 °C100%占空比

湿度:10 % ~ 90 %相对湿度,非冷凝

坠落测试   :  通过了美军标准810-G中的从4英尺(1.22米)高处坠落的测试

IP评级和探测器快门闸保护IP54:防尘,而且可经受来自各个方向的水溅。

操作系统   :     Linux

数据存储   :         microSD插槽,并提供1 GB工业用可插拔SD

USB      2USB 2.0 A型主端口,用于诸如无线局域网、蓝牙和USB闪存驱动盘等配件。

一个USB 2.0袖珍B型端口,用于连接计算机。

无线局域网    : 通过可选配的USB适配器,支持802.11 b/g/n2.4 GHz)无线局域网功能

蓝牙      :  通过可选配的USB适配器,支持蓝牙功能

Vanta分析仪是奥林巴斯的手持式X射线荧光(XRF)设备。这款坚固的Vanta XRF分析仪通过了IP认证和坠落测试,可以在检测现场进行快速、准确的元素分析,并提供具有实验室水平的检测结果。

奥林巴斯为用户提供一套与Vanta分析仪一起使用的可选购配件,有助于提高Vanta分析仪在很多应用中的效率


联系方式
  • 联系人: 张长江 先生
  • 电话: 010-68581228
  • 真: 010-68581228
  • 手机: 18210516534
  • 地址: 北京市 房山区长阳镇长阳天地九号院
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