15J测量显微镜

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15J测量显微镜

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15J测量显微镜以下是相关参数及用途：

测量显微镜是光学计量仪器之一种，它的结构简单，操作方便，适用范围极广，用途如下：

1．直角坐标中测定长度，例如测定孔距、基面距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、通孔外圆直径、电线电缆绝缘皮厚度等。

2．转动度盘测定角度，例如对刻度盘、样板、量规、钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。

3．用作观察显微镜，以比较法检查工作表面光洁度，鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版，检验纺织纤维等等。

规格

测量工作台读数装置主要规格

X轴移动测量范围           50 mm

Y轴移动测量范围           13 mm

测微器分度值               0.01mm
测量台转动范围             不限

测量台刻度盘分度范围       0°〜360°

测量台刻度盘之分度值       1°

测量台刻度盘游标读数示值   6’

测量精度

仪器示值误差：±（5+L/15）μm

仪器示值误差：包括测量误差与仪器系统误差

注：测量地点温度变化（20±3）℃

L-被测件长度（mm）

仪器主要尺寸

测量台与物镜间之距离     80mm

测量工作台直径              120mm

仪器外形尺寸      262×220×325mm

注另一款15JE数显型测量显微镜

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