德国耶拿光学集团JENOPTIK T8000系列粗糙度仪,计算机集成化的的表面轮廓粗糙度和波纹度测量仪,参数共计90多种,粗糙度和宏观轮廓行程可达0-60mm或0-120mm,多种型号可选。 主要特点: ◆ 计算机集成化的的表面轮廓粗糙度和波纹度测量仪,参数共计90多种 ◆ 粗糙度轮廓测量仪符合新GB中国标准 ISO国际标准/ DIN德国标准/ MOTIF法国标准/JIS日本标准 ◆ 稳定和牢固的机动立柱保证了测头的自动定位 ◆ 在整个进给长度内都可测量粗糙度 ◆ 在一个测量报告内分析粗糙度和轮廓特征数据 ◆ 粗糙度和宏观轮廓行程可达0-60mm或0-120mm ◆ 机动立柱稳定牢固,保证测头的自动定位 ◆ 海量采样点多达1,200,000点(120mm) 或 600,000点(60mm) ◆ 软件结构清晰,界面图形化,操作简单 |