1.设备应具有国际上同行业中近年内的先进设计、制造水平,采用新的工艺、新材料、新技术(专有技术),通过国际GEAE认证。 2.具有成熟的盘环件超声C扫描检测系统研制经验,且有成熟的盘环件检测系统应用案例,如用户清单、客户使用满意度等的证明材料。 3.设备能进行盘环件的多区位检验,该系统应具有SPC型面跟踪和底波监控功能。C扫与底波监控同时进行。 *技术要求: 1.系统带宽:1Khz-50Mhz(-3db) 2.X轴定位精度:±0.1mm/m;Y轴定位精度:±0.1mm/m;Z轴精度: ±0.1mm/m 3.X轴重复定位精度: ±0.05mm;Y轴重复定位精度: ±0.05m;Z轴重复定位精度:±0.05mm 4.对于一般盘件检验,能检出Ф0.4mm的平底孔;对于粉末冶金盘件检验,能检出Ф0.4mm-18dB的平底孔;对于环件检验,能检出Ф0.4mm的平底孔。
产品规格︰ 频率范围: 0.4-20MHz
增益范围: 0-120dB,0.1,2.0,6.0dB步进
动态范围: 32dB
垂直线性: <3%
水平线性: 1m内为0
扫描范围: 0.5-10000mm
分 辨 率: >40dB
灵敏度余量: >62dB
工作模式:单/双、穿透
脉冲发生器:可变脉冲发生器
阻尼:50/100/400Ω自动匹配
检波方式:半波/射频
抑制:0~99%线性抑制
显示环境温度:-20~50℃
充电器:220~240V交流输入